γεωλογικες ερευνες, γεωφυσικες ερευνες, υδρογεωλογικες ερευνες

Κοιτασματολογικές – Γεωχημικές έρευνες

Μικροσκοπική μελέτη και αναγνώριση ορυκτών, πετρωμάτων, οργανικών υλικών, πολύτιμων- ημιπολύτιμων λίθων και μεταλλευμάτων. Προσδιορισμός σκληρότητας και διαστολής υλικών (συνθετικών και φυσικών).

Το γραφείο διαθέτει τον γεωφυσικό εξοπλισμό υπαίθρου, ο οποίος είναι κατάλληλος για την αναζήτηση και έρευνα μεταλλευμάτων, μεταλλοφόρων περιοχών, βιομηχανικών ορυκτών και λατομικών προϊόντων όπως και των συμβατικών παρεχόμενων υπηρεσιών (γεωλογικές χαρτογραφήσεις και γεωχημικές αναγνώρισεις).

Επίσης διαθέτει μία πλήρη σειρά εξειδικευμένων μικροσκοπίων προκειμένου να διεξάγει λεπτομερείς μικροσκοπικές μελέτες, αναγνωρίσεις και ταυτοποιήσεις ορυκτών, πετρωμάτων και μεταλλευμάτων.

Τα οπτικά μικροσκόπια που το γραφείο διαθέτει καλύπτουν όλες τις μεθόδους της μικροσκοπικής παρατήρησης (normal &inverse) όπως του Φωτεινού (Bright field) και Σκοτεινού πεδίου (Dark field), της Αντίθεσης φάσης (Phase contrast), της πολωτικής και στερεοσκοπικής παρατήρησης, της αντίθεσης διαφορικής συμβολής (differential interference contrast, Nomarski), του φθορισμού (fluorescence ), της συνεστιακής σάρωσης με ακτίνες Laser (Confocal Laser Scanning Microscope) και της μικροφασματοφωτομετριας.

Τα συστήματα μικροσκοπικής παρατηρήσεις του γραφείου είναι:

Μεταλλογραφικό (Incident light illumination) μικροσκόπιο Leitz MM6 (W.Germany)

koitasmatologikes1Πεδία μεγεθύνσεων 20:1 έως 5000:1. Παρέχει τις δυνατότητες παρατηρήσης: Brightfield, darkground,, interference contrast, Nomarski. polarizing light, conoscopic investigations, grain size determination and micro-hardness measurements, hot stage (1250°C) observation and microphotography.

Αυτόματο σύστημα μικροσκοπίου Leitz Ergolux LAF-AMC plus MPV_3, with laser autofocus, scanning stage and Hamamatsu detector model R 928 photomultiplier with spectral range from 220 to 800nm (Incident and transmitted light illumination). System software: Rev ELMES- MPV & SP

koitasmatologikes2Πεδία μεγεθύνσεων 5:1 έως 2000:1. Παρέχει τις δυνατότητες παρατηρήσης:Brightfield, darkground, interference contrast, Nomarski. polarizing light, micromorphology analysis, grain size determination, thickness measurements (from 5 nm up to 150 µm) and microphotography.

Leitz Orthoplan, Metalloplan and Orthoxul II, widefield microscope systems (W.Germany) Πεδία μεγεθύνσεων 6:1 έως 3000:1. Παρέχουν τις δυνατότητες παρατηρήσης: Brightfield, phase contrast (transmitted and incident), phase contrast fluorescence, conoscopic investigations, dark field, interference contrast (transmitted and incident including the methods: Smith T System, Jamin-Lebedoff, Interference Contrast R, Francon Pol-interference for Incident light), transmitted fluorescence, interference contrast fluorescence, polarized, epi-pol, epi-fluorescence, epi-BF & epi-DF, grain size and micro-hardness measurements, 5 axes crystallography stage, microphotography, and hot stages (180°C έως 1250°C) observationς.

koitasmatologikes3 koitasmatologikes4
Leitz Ortholux microscopes. Πεδία μεγεθύνσεων 10:1 έως 1500:1 koitasmatologikes5Παρέχουν τις δυνατότητες παρατηρήσης: Brightfield, phase contrast (transmitted and incident), dark field, conoscopic investigations interference contrast (transmitted and incident including the methods: Smith T System and Jamin-Lebedoff,) polarized, epi-pol, epi-BF & epi-DF and micro-hardness measurements.
Leitz Ortholux MPV_2 microscope photometer

koitasmatologikes6

Χρησιμοποιείται για τις ακόλουθες διαδικασίες και εφαρμογές μικροσκοπικής παρατήρησης: Reflectance measurements (reflectivity), absorption or extinction, scattered-light intensity, remission (diffuse reflectance), intensity of fluorescence, phase difference (in interference and polarized light microscopy).

Leitz transmitted interference microscope (Mach-Zender)

koitasmatologikes7Εξειδικευμένο όργανο που χρησιμοποιείται στις πετρολογικές και ορυκτολογικές μικροσκοπικές παρατηρήσεις (micro-relief characteristics of minerals micron-size inclusions, study of microstructure κ.α).

Reichert MEF- 2 microscope koitasmatologikes8Μεταλλογραφικό (Incident light & transmitted illumination). Πεδία μεγεθύνσεων 5:1 έως 2000:1. Παρέχει τις δυνατότητες παρατηρήσης: Brightfield, phase contrast (transmitted and incident), fluorescence & phase contrast fluorescence, dark field, interference contrast nomarski, polarized, conoscopic investigations epi-pol, epi-fluorescence, grain size determination, micro-hardness measurements and microphotography.
Reichert Zetopan microscopes. koitasmatologikes9Πεδία μεγεθύνσεων 5:1 έως 3000:1.Παρέχoυν τις δυνατότητες παρατηρήσης: Transmitted and incident light for bright or dark – field / phase contrast / anoptral phase contrast / interference / interference phase contrast / polarization / conoscopic investigations / fluorescence, microphotography, microspectrophotometer measurements and grain size determination.
Nikon Apophot microscopes Πεδία μεγεθύνσεων 6:1 έως 3000:1. Παρέχουν τις δυνατότητες παρατηρήσης: Transmitted and incident light for bright or dark – field / phase contrast/ interference / interference phase contrast, differential interference / polarization / conoscopic investigations / fluorescence and microphotography
Nikon Metallographic invert microscope koitasmatologikes11Πεδία μεγεθύνσεων 5:1 έως 3000:1. Παρέχει τις δυνατότητες παρατηρήσης: Transmitted and incident light for bright or dark – field / phase contrast / interference, differential interference / polarization and microphotography.
Nikon comparison microscope koitasmatologikes12Πεδία μεγεθύνσεων 5:1 έως 2000:1. Παρέχει τις δυνατότητες παρατηρήσης: Transmitted and incident light for bright or dark – field / phase contrast/ interference, differential interference / polarization / fluorescence and microphotography.
Olympus PME Metallographic microscope Πεδία μεγεθύνσεων 5:1 έως 2000:1. Παρέχει τις δυνατότητες παρατηρήσης: Transmitted and incident light for bright or dark – field / phase contrast / polarization and microphotography.
 Olympus IM invert microscope koitasmatologikes14Πεδία μεγεθύνσεων 5:1 έως 2000:1. Παρέχει τις δυνατότητες παρατηρήσης: Transmitted and incident light for bright or dark – field / phase contrast / polarization and microphotography.
 Στερεοσκόπια Leitz και Olympus  Πεδία μεγεθύνσεων 5:1 έως 300:1

 

Για τον προσδιορισμό της σκληρότητας και της διαστολής υλικών (συνθετικών και φυσικών) το γραφείο είναι εξοπλισμένο με τα παρακάτω όργανα:

Reichert  micro-hardness tester, with measuring objective and indenter with diamond prism (Vickers method). Testing loads from 5 to 200 g

Χρησιμοποιείται με το μικροσκόπιο Reishert MEF-2.

M2 NEW
Leitz automatic micro-hardness tester system , with micrometer measuring objective and indenters with diamond prisms (Vickers and Knoop indentations) plus calibration balances and microphotography. Testing loads from 5 to 400 p. Χρησιμοποιείται με τα μικροσκόπια Leitz: MM6, Orthoplan, Metalloplan and Ortholux.

M1 NEW
Leitz Miniload 2 micro-hardness tester for Vickers, Knoop and Scratch Hardness Testing loads from 5 to 2000 p, microphotography.

 

M 17

Leitz Universal Delatometer UMB model,
includes furnace for up to 1150°C and
to 1600°C, heating and cooling device, time recorder for temperature and expansions, reflecting galvanometer test pieces and comparsion rods. Suitable for differential and absolute method of investigations
Ο εξοπλισμός χρησιμοποιείται στις έρευνες και την μελέτη της σχέσης μεταξύ της θερμοκρασίας και της γραμμικής θερμικής διαστολής στερεών υλικών, όπως μετάλλων, κραμάτων, κεραμικών, ορυκτών, πλαστικών κ.λ.π. Επίσης διερευνάται η σχέση διαστολής/χρόνου, των υλικών (transformation and precipitation processes).

M 18

Copyrights © 2015 by M. Poultsidis. Created and hosted by ITBIZ